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在TOF-SIMS數據的解析過程中，通常需要將實測二次離子的質荷比與標準數據庫中記錄的原子離子或分子離子的精確質量數進行比對，以確定二次離子所對應的元素或分子結構。因此，準確的質量校準是TOF-SIMS數據處理中至關重要的一步。本期技術文章將介紹如何正確進行TOF-SIMS數據的質量校準。一、TOF-SIMS質量校準原理在TOF-SIMS分析中，質譜儀記錄的原始信號為二次離子到達探測器所用的飛行時間及其信號強度。二次離子的質荷比是根據其飛行時間計算得出的。這一轉換過程通常由采...

Lexsyg釋光探測器|在考古測年領域應用分享文章來源:https://doi.org/10.1111/arcm.12435引言近日，德國科隆大學聯合考古團隊在BergischGladbach森林中發現了一處古羅馬石灰窯遺址，在羅馬帝國邊境外的“大日耳曼尼亞”地區確認了羅馬時期的石灰生產活動。這項研究結合熱釋光（TL）與后紅外激發釋光（pIRIR）技術，成功揭示了窯爐的結果使用年代，相關成果發表于國際有名期刊。突破性測年技術：TL與pIRIR雙劍合璧研究團隊從窯壁、周邊沉積物...

在材料科學的領域，我們一直在追尋一雙更銳利的“眼睛”，以期窺見構成萬物的原子與分子的真實面貌。然而，真正的挑戰在于，原子世界并非一幅靜止的畫卷。原子始終在它們平衡位置附近進行著微小的、快速的??熱振動??，這種“細微顫動”是理解材料性能的關鍵。如今，高分辨率X射線衍射儀（HRXRD）的突破性發展，正讓我們得以“看清”這激動人心的動態圖景，將材料研究從靜態結構解析推向動態行為探測的全新高度。??一、從“靜態快照”到“動態影像”的飛躍??傳統的X射線衍射技術能夠為我們提供材料晶體...

在當今科技迅猛發展的時代，對于物質內部結構的精準探索已成為眾多領域突破的關鍵。三維重構成像X射線顯微鏡作為一種先進的科學儀器，正以其優勢為我們打開了一扇通向微觀世界的新大門。該設備利用X射線穿透性強的特點，能夠對各種樣品進行非破壞性的內部掃描。通過采集不同角度下的投影數據，并運用復雜的算法進行重建，它可以生成高分辨率的三維圖像，清晰地展現出物體內部的精細結構。無論是金屬材料中的晶粒分布、復合材料中的界面結合情況，還是生物組織內的細胞形態與排列方式，都能被準確地呈現出來。在材料...

隨著科學技術的進步，人們對微觀世界的探索需求日益增長。X射線三維顯微鏡作為一種分析工具，以其成像能力和廣泛的應用范圍，成為了科研人員手中的一把利器。這款顯微鏡采用了先進的X射線源和探測器組合，能夠產生高質量的三維圖像。與傳統光學顯微鏡相比，它具有更深的景深和更高的對比度，使得即使是微小的細節也能清晰可見。更重要的是，由于X射線具有較強的穿透能力，因此它可以透過不透明的樣品表面，直接觀察到內部的組織結構。在生命科學領域，X射線三維顯微鏡的應用尤為突出。它可以用于研究動植物組織的...

從鋰硫電池到鋰金屬電池一、TOF-SIMS技術概述及其在電池表界面研究中的重要性飛行時間二次離子質譜（Time-of-FlightSecondaryIonMassSpectrometry,TOF-SIMS）是一種具有高表面靈敏度和檢測靈敏度的分析技術，已成為能源材料表界面研究不可少的工具。其工作原理是通過一次脈沖離子束轟擊樣品表面產生二次離子，經飛行時間質量分析器分析離子的質荷比，從而獲得樣品表面信息。TOF-SIMS在電池研究中的獨特優勢體現在三個方面：一是高的檢測靈敏度（...

文章來源：https://doi.org/10.1080/0067270X.2016.1173308【導語】在坦桑尼亞桑給巴爾島的密林深處，Kuumbi洞穴靜靜守護著人類20,000年的生存密碼。一支國際考古團隊運用先進光釋光技術，揭開了這座洞穴的三重時空面紗，改寫了我們對東非沿海文明演進的認知。文中關鍵配圖均來自研究團隊一手數據，帶您穿越時空見證科技考古的力量。一、洞穴謎題：跨越半個世紀的學術爭議自2005年發掘以來，Kuumbi洞穴就因"中全新世新石器文化""早期家雞"等...

在科研探索與工業檢測的前沿陣地，對物質內部電子自旋狀態的精準解析，是解鎖材料特性、揭開生命奧秘、守護生態環境的關鍵鑰匙。電子自旋共振波譜儀作為專注于捕捉電子自旋信號的分析儀器，憑借其檢測能力與穩定的性能表現，成為科研實驗室、企業研發中心的“微觀探測利器”，為多領域的技術突破與質量管控提供堅實支撐。?當物質中存在未成對電子時，在外部磁場與特定頻率微波場的共同作用下，電子會發生自旋能級躍遷，產生可被精準捕捉的共振信號。通過分析信號的強度、峰形與分裂模式，不僅能確定未成對電子的數量...